Pe principio de detección umi equipo de detección óptica rehegua oñemopyenda principalmente umi característica tesape ha fenómeno óptico rehegua.
Tesape oguereko propiedad onda ha partícula rehegua, ombohapéva chupe oñembojoaju hagua umi mba e ndive ha omoheñói opaichagua señal ojehechakuaáva. Umi principio de detección óptica común apytépe oĩ:
Principio de reflexión: Pe tesape oity jave peteĩ mba’e superficie, ojehechaukáta. Umi mba e oguerekóva material iñambuéva ha estado superficial oguereko iñambuéva característica ha eháicha intensidad ha ángulo tesape ojereflejáva rehegua. Ojehechakuaávo ko'ã característica tesape ojereflejáva, ikatu ojehusga calidad superficial, forma, tamaño, tamaño ha ambue marandu objeto rehegua. Techapyrã, ojepuru peteĩ sensor fotoeléctrico ojehechakuaa hag̃ua mbaꞌeichaitépa oñemoambue pe tesape reflejado intensidad peteĩ mbaꞌe superficie rehe ojekuaa hag̃ua pe mbaꞌe oguerekópa defecto térã defecto.
Principio de refracción: Oike jave tesape petet medio guive ambuépe, ojerefracta va era, ha pe ángulo de refracción ojoaju pe índice de refracción pe medio rehegua ndive. Oñemedi rupi pe ángulo oguerekóva pe luz refractada téra pe cambio oĩva pe índice de refracción-pe, ikatu ojekuaa umi propiedad material, espesor, hamba e pe mba e rehegua. Techapyrã, inspección de calidad vidrio óptico-pe, oñeevalua uniformidad ha índice de refracción vidrio rehegua oñemedivo ángulo de refracción tesape rehegua ohasávo vidrio rupi.
Principio de interferencia: Ojoaju jave mokõi haz de luz coherente, oiko interferencia, omoheñóivo interferencia franjas de luz ha pytũmbýpe. Ojesarekóramo mba éichapa oñemohenda ha mba éichapa oñemohenda umi fleco interferencia rehegua, ikatu oñemedi pe mba e micro-desplazamiento, planicidad, ha mba e. Oĩ instrumento de medición óptica de alta-Precisión yvateguápe, ha eháicha microscopio interferencia rehegua, ojepuru pe principio interferencia rehegua oñemedi hagua morfología superficial umi mba e rehegua.
Principio de difracción: Ohasáramo tesape umi mba e ojokóva rupi ha eháicha umi agujero michtva téra hendidura, oñemyendyva era, ha pe patrón de difracción ojoaju pe obstáculo forma ha tuichaháicha. Oñeanalisávo pe difracción patrón, ikatu oñeinferi pe estructura ha tamaño información pe objeto rehegua. Techapyrã, tecnología de difracción de rayos x--pe, ojepuru pe fenómeno de difracción umi rayos X--pegua oñehesa ỹijo hagua umi cristal estructura.
Principio de absorción: Umi sustancia iñambuéva oguereko iñambuéva característica absorción rehegua tesape rehegua. Oĩ sustancia oabsorbéva tesape peteĩ longitud de onda específica ha opresenta peteĩ color térã transmitancia específica. Ojehechakuaávo pe tesape absorción, ikatu ojekuaa pe composición ha concentración pe sustancia rehegua. Techapyrã, análisis químico-pe, ojeporu espectrofotómetro UV-ojehechakuaáva oñemedi haguã absorción peteî sustancia peteî longitud de onda específica de luz rupive ojekuaa haguã contenido sustancia rehegua.
Mbykyhápe, umi tembiporu detección óptica rehegua ikatu ohechakuaa opaichagua propiedad física ha química umi mba e rehegua oipurúvo iñaranduhápe opaichagua característica ha fenómeno tesape rehegua. Oguereko umi mba’e porã oguerekóva no-contacto, alta precisión ha velocidad yvate, ha ojeporu hetaiterei producción industrial-pe, control de calidad, investigación científica ha ambue ámbito-pe.
